当前位置:首页   >  产品中心   >  小麦面粉分析设备  >  降落值测定仪

  • YUCEBAS降落值测定仪,可用于评价谷物发芽损伤的程度和面粉的酶活性,可以应用在小麦、 大麦、 黑麦 、高粱、面粉以及其他利用标准测量降落值的应用。

    访问次数:431
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2022-07-05
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
扫码关注

传真:86-010-60271455

邮箱:sale7@tenovolab.cn

地址:北京市大兴区生物医药产业基地天华大街9号8-1302

版权所有©2022 北京天翔飞域科技有限公司 All Rights Reserved     备案号:京ICP备17015003号-3     sitemap.xml     管理登陆     技术支持:化工仪器网